Tester AOI CyberOptics QX500
Dostępny do odbioru w czerwcu.
Specyfikacja techniczna:
Rok produkcji: 2014
Prędkość inspekcji: do 100 cm²/s
Minimalny rozmiar komponentu: 0402 mm (01005 in.)
Wymiary płytki: Szerokość od 50 mm do 308 mm (2.0 in. do 12.0 in.)
Prześwit na wysokości komponentu: Góra: 25 mm (0.984 in.), Dół: 30 mm (1,18 cala)
Oświetlenie: Stroboskopowe białe światło z ciemnym/jasnym polem
Obrazowanie: Wiele 5,0-megapikselowych kolorowych kamer CMOS
Rozdzielczość: 17µm rozmiar piksela
Wymiary systemu: 100 x 127 x 139 cm
Waga: Około 420 kg (925 funtów)
W przypadku pytań prosimy o kontakt pod adresem: production@inventronics.eu